相互接続用器具及びそのための接触用要素

Apparatus for mutual connection, and element for contact therefor

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To attain mechanical and electrical contact having a simple structure, low cost and high accuracy, and withstand long-term use. <P>SOLUTION: When an upper housing part 12 and a lower housing part 14 are arranged facing each other and fixed, a through hole, formed by linking the first hole 18 to the second hole 26, has a shape of a comparatively long tunnel space having a diameter smaller than the swelled hollow space, formed by a second hole constitution part 22 and a second hole constituting part 30. The first spring part 52 can control a load pressing a spring 16 onto an electronic device terminal in a design step, to thereby acquire proper electrical contact. The second spring part 56 generates a load pressing a spring lower part 36 onto the board side 48 of an apparatus testing device, to thereby enable superior electrical contact, by pressing the housing and the board of the apparatus testing device onto the board with a constant load at all times. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
【課題】 単純な構造で、安価で、長期間の使用に耐え、精度の高い機械的及び電気的接触を達成する。 【解決手段】 上部ハウジング部12と下部ハウジング部14とを、対向させて配置固定せしめると、第一の孔18と第二の孔26とが連なって形成される貫通孔は、第二の孔構成部22と第二の孔構成部30とで形成されるコブ状の中空空間とより小さな径を有して比較的長いトンネル状空間の形となる。第一バネ部52は電子デバイス端子にスプリング16を押し付ける荷重を設計段階でコントロールでき、良好な電気的接触を得られる。第二バネ部56は、機器試験装置のボード側48にスプリング下部36を押し付ける荷重を発生させ、ハウジングと機器試験装置のボードとを常に一定の荷重でボードに押し付け良好な電気的接触が可能となる。 【選択図】 図2

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